由于科技的发展、时代的进步，纺织技术不断的提升，对于织物的品质和工作效率的要求相对提高。降低生产成本提高企业竞争力，最佳的无人检测系统是您唯一的选择。

NP-5050布面瑕疵扫描仪是采用美国ATMEL最先进双CPU微处理器，不因断电而导致数据消失，扫描镜头在布面6-7公分处以每秒约1-2公尺的速度作来回检测，所接收之信息皆送至CPU作逻辑演算，织物(布面)若有瑕疵，CPU会送出停车讯号立即停车，防止瑕疵扩大。

NP-5050主控制箱内建雷射断纱侦测1-4组的扩充槽(选配)，可双机一体做全方位的品质监控。