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测厚仪-日本KETT膜厚仪
发布时间:2011-03-08
一、产品介绍: LZ-990型日本KETT膜厚计是最新型的磁性和涡流两用型膜厚计。中、英、日、韩等语言显示。自动识别磁性和非磁性基体,USB接口输出,选配件后可连接电脑.可存储1000个数据.测量范围大,可达到2000um,手动\自动开关机.二、产品参数:◆测定方法:电磁式及高频涡流式◆测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层及非磁性金属上绝缘层◆测量范围:0-2000um◆测量精度:<50um ±1um 50-1000±2% 1000-2000um±3%◆分辨率: <100um 0.1um >100um 1um◆界限设定:可设定上/下限数值◆测试单位:公/英制互换◆附加功能:时间表示 统计计算:最大值.最小值.标准偏离值.平均值◆记忆输出内容:测定结果、统计计算结果、批量号、测定或操作时间记录等;◆显示方式:LCD数显◆操作面板:密封防水按键◆电源:DV3V 7#碱性电池×2个◆体积:82(W)×31(D)×99.5(H)◆重量:主机重量135g,主机含电池重量155g◆附属品:铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书