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功率半导体元件加速寿命测试
亿佩科测试技术(北京)有限公司
2011年11月12日 来源：中国纺机网编辑部
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功率半导体元件加速寿命测试
SEM测试是一种可配置的应力筛选系统，该系统用于执行功率半导体元件和包IGBT、 MOSFET、SCR、二极管和二级元件的模块加速寿命测试。该系统对想获得优质的商业现货功率半导
SEM测试的核心是能为每个客户的独特测试需求进行配置的灵活架构。系统可以从20到4000个甚至更多的测试储存单元进行配置。每个单元以自己的本地控制器为特征对应用的或UUT（被测单元）功率和其它测试参数进行设置和监测。每个单元还包含用于温度、电流、电压和计时的测量单位，使加快单独设备的故障机制和确定功能运行极限的完全鉴定和生产测试成为可能
SEM测试是一种可配置的应力筛选系统，该系统用于执行功率半导体元件和包含IGBT、 MOSFET、SCR、二极管和二级元件的模块加速寿命测试。该系统对想获得优质的商业现货功率半导体元件制造商和用户具有理想效果，这些设备将用于高可靠性的自动化、运输、航空、国防、工业和医疗系统。
1.用于被测设备的热应力和电应力的功率循环
2.具有用户定义的警报和控制限制的趋势监测
3.快速的设备温度循环和环境温度曲线绘制
4.测量接点温度
5.检测初期故障并自动传送警报
测试配置通过友好的图形用户界面进行快速编程。每个测试单元的安装和测量都显示在屏幕上，并被输出到SQL数据库进行快速的测试中和测试后分析。