便携的测量算法：全新工具可实现一次开发测量IP，即可部署至多个不同的处理单元。
《2012年自动化测试趋势展望》的内容源于学术界和工业界的研究、用户论坛与调查、商业智能化和用户顾问委员会的反馈意见。该报告以数据为基础，详细介绍了下一代技术趋势，以此应对测试测量领域的商业和技术挑战。
《自动化测试趋势展望》由NI测试行业领导委员会编写，NI创立该委员会，旨在促进全球不同行业内数千家客户分享反馈各自的最佳测试测量方法。NI测试行业领导委员会以促进测试行业领导人之间的交流为目标，鼓励他们提出商业和技术的独到见解。领导委员会的活动内容包括领导人会议、同行互通网络和技术交流。
请访问ni.com/ato/zhs，详细阅读2012年《自动化测试趋势展望》。
关于NI
自1976年以来，美国国家仪器，简称NI(www.ni.com)一直致力于为工程师和科学家提供各种工具来提高效率、加速创新和探索。NI的图形化系统设计方法为工程界提供了集成式的软硬件平台,有助于加速测量和控制系统的开发。长期以来，NI一直期望并努力通过自身的技术来改善社会的发展，确保客户、员工、供应商及股东获得成功。
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